狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2

簡要描述：狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2，源自2010 年加入OPHIR 集團(tuán)的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年開始研發(fā)生產(chǎn)掃描式光束分析儀，在光通訊、LD/LED 測試等領(lǐng)域享有盛名。掃描式與相機(jī)式光斑分析儀的互補(bǔ)聯(lián)合使得OPHIR可提供完備的光束分析解決方案

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2025-03-21
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應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

掃描式光束分析是一種經(jīng)典的光斑測量技術(shù)，通過狹縫/ 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過單點光電探測器測量強(qiáng)度，再通過掃描狹縫/ 小孔的位置，復(fù)原整個光斑的分布。

掃描式光束分析儀的優(yōu)點：

• 取樣尺度可以到微米量級，遠(yuǎn)小于CCD 像素，可獲得較高的空間分辨率而無需放大；

• 采用單點探測器，適應(yīng)紫外~ 中遠(yuǎn)紅外寬范圍波段；

• 單點探測器具備很高的動態(tài)范圍，一個探頭可同時適應(yīng)弱光和強(qiáng)光分析。

掃描式光束分析儀的缺點：

• 多次掃描重構(gòu)光束分布，不適合輸出不穩(wěn)定的激光；

• 不適合非典型分布的激光，近場光斑有熱斑、有條紋等的狀況。

掃描式光束分析儀與相機(jī)式光束分析儀是互補(bǔ)關(guān)系而非替代關(guān)系；在很多應(yīng)用，如小光斑測量（焦點測量）、紅外高分辨率光束分析等方面，掃描式光束分析儀具備du特的優(yōu)勢。

NanoScan 2s 系列狹縫掃描式光束分析儀，源自2010 年加入OPHIR 集團(tuán)的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年開始研發(fā)生產(chǎn)掃描式光束分析儀，在光通訊、LD/LED 測試等領(lǐng)域享有盛名。掃描式與相機(jī)式光斑分析儀的互補(bǔ)聯(lián)合使得OPHIR可提供完備的光束分析解決方案。

特點和功能：

• 可測量連續(xù)激光以及大于1KHz 重頻的脈沖激光

• 取樣間隔可以調(diào)節(jié)小到5.7nm，使其能夠極其精確地測量非常小的光斑，

• 可顯示2D/3D 光斑形貌

• 掃描速度可調(diào)諧

• 16 位數(shù)字化信號采集，35dB 高動態(tài)范圍，20Hz *刷新頻率

• 支持用戶進(jìn)行二次開發(fā)，便于集成

• 探頭可添加功率計選項

• 硅、鍺和熱釋電探測器可選，測量范圍可覆蓋很寬的光譜范圍和功率級別

• 不加衰減就可以測量較高功率或焦點處光斑

• 所有的NanoScan 的校準(zhǔn)都可以朔源NIST 標(biāo)準(zhǔn)以確保*終的精度

• 符合國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/DIN 11146 及ISO13694。（1989~1996 年，Photon 公司主持了ISO/DIN 委員會的工作，制訂出了ISO/DIN11146 標(biāo)準(zhǔn)）